LTE终端自动测试系统

一、系统简介:

RT8150测试系统是面向无线电设备的符合国际、国内标准要求的射频测试系统,可满足LTE设备射频性能指标测试的要求,是各检测实验室开展型号核准认证检测、国际CE/FCC等法规认证检测的射频一致性检测系统,也是通信终端及芯片企业在产品研发、预认证检测的理想测试平台。

二、 支持频段:

Band 38:2570MHz–2620MHz

Band 39:1880MHz–1920MHz

Band 40:2300MHz–2400MHz

Band 3:  1755MHz-1765MHz, 1765MHz-1780MHz.

Band41:  2500MHz-2690MHz.

三、 测试能力:

1.工信部无[2012]436号《工业和信息化部关于国际移动通信系统(IMT)频率规划事宜的通知》

2.工信部无函[2014]313号《工业和信息化部关于同意中国电信集团公司LTE(TD-LTE/LTE FDD)混合组网试验使用频率的批复》

3.工信部无函[2014]314号《工业和信息化部关于同意中国联合网络通信集团有限公司LTE(TD-LTE/LTE FDD)混合组网试验使用频率的批复》

4.3GPP TS 36.521-1 V9.7.0

四、 测试项目:

最大发射功率、配置UE发射功率、误差矢量幅度(EVM)、占用带宽、邻道泄漏抑制比(ACLR)、最大功率回退、最小输出功率、频率误差、载波泄漏、EVM均衡器频谱平坦度、频谱发射模板、通用发射开/关时间模板、发射关功率、带内杂散、绝对功率控制容限、相对功率控制容限、总功率控制容限、传导杂散辐射、UE共存杂散辐射、发射互调。